Zarejestruj się bezpłatnie i zyskaj pełny dostęp do treści ogłoszenia.
Dostawa urządzenia do pomiaru właściwości cienkich warstw metodą elipsometrii spektroskopowej
| Id ogłoszenia |
28575334 |
| Dodano dnia |
15.01.2025 |
| Województwo |
Mazowieckie
|
| Miasto |
Warszawa
|
| Możliwość złożenia oferty do |
14.02.2025 |
| Dla kodu CPV |
38500000 |
| Źródło |
internet |
| Branże: |
- automatyka elektronika
- inne elektroniczne urządzenia
- aparatura pomiarowa
- laboratoria - osprzęt usługi
- aparatura naukowa
- laboratoria - sprzęt, wyposażenie
|
INNE OGŁOSZENIA W TEJ KATEGORII